*納米壓痕測(cè)試儀 (UNHT3)

納米壓痕測(cè)試儀|納米壓痕儀|納米壓痕硬度儀|*納米壓痕測(cè)試儀儀器簡(jiǎn)介：

*高精度、高穩(wěn)定性納米壓痕測(cè)試儀

UNHT3 高精度*納米壓痕測(cè)試儀采用真實(shí)力傳感器和位移傳感器，可用于測(cè)量材料在納米尺度下的機(jī)械性能。UNHT3 采用獨(dú)特的主動(dòng)表面參比磚利技術(shù)，幾乎消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于對(duì)所有類(lèi)型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。

納米壓痕測(cè)試儀|納米壓痕儀|納米壓痕硬度儀|*納米壓痕測(cè)試儀主要特點(diǎn)：

●用于低載荷測(cè)量的佳的計(jì)量型納米壓痕測(cè)試儀

?獨(dú)特的主動(dòng)表面參比磚利技術(shù)：參考參比針尖記錄樣品的表面位移位置，同時(shí)針尖壓痕完成測(cè)量，以此扣除熱漂移和框架剛度影響。

?UNHT3 可測(cè)量他人估計(jì)的結(jié)果：兩個(gè)獨(dú)立式位移和載荷傳感器可真正可靠地控制載荷和壓入位移。

?*大量程：從小壓入位移（幾納米）到大壓入位移（高達(dá) 100 μm），從低載荷（10 μN）到高載荷（100 mN）

●市場(chǎng)上穩(wěn)定性高的納米壓痕測(cè)試儀

?熱漂移低至 10 fm/sec，可忽略，無(wú)需進(jìn)行任何修正

?獨(dú)特的蠕變測(cè)試過(guò)程的長(zhǎng)期穩(wěn)定性

?即使在高載荷下也保持高框架剛度 (>108 N/m)

?獨(dú)特的 Zerodurò 材料沒(méi)有熱膨脹性，因此消除了測(cè)量過(guò)程中溫度變化的影響

●“快速點(diǎn)陣”壓痕模式帶“模板”模式

?采用“快速點(diǎn)陣”壓痕模式的快速測(cè)量點(diǎn)陣：每小時(shí)測(cè)試量高達(dá) 600 次，符合 ISO14577 儀器化壓入測(cè)試 (IIT) 要求

?全新“模板”模式可用于從自動(dòng)數(shù)據(jù)導(dǎo)出并創(chuàng)建更快速靈活的分析

?定義自動(dòng)測(cè)量的測(cè)量模板和多樣品管理

●高精度的納米壓痕測(cè)試儀用于進(jìn)行準(zhǔn)確的表面檢測(cè)

?*靈敏表面接觸點(diǎn)判定包含接觸剛度判定

?測(cè)量凝膠和硬質(zhì)材料

?載荷分辨率為 0.003 μN(yùn)

?載荷本底噪音小于 0.05 μN(yùn)

?位移分辨率為 0.003 nm

?位移本底噪音小于 0.03 nm

●內(nèi)置多功能：多種測(cè)試和分析模式

?多種測(cè)試模式：連續(xù)多周期 (CMC)、恒應(yīng)變速率、用戶(hù)自定義、上等點(diǎn)陣

?動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試 (DMA)包含“正弦”模式

?各種不同機(jī)械性能的分析：硬度、彈性模量、儲(chǔ)能和損耗模量、蠕變、應(yīng)力 - 應(yīng)變、赫茲應(yīng)力分析

?環(huán)境控制：真空、液體、溫度和相對(duì)濕度

納米壓痕測(cè)試儀|納米壓痕儀|納米壓痕硬度儀|*納米壓痕測(cè)試儀典型應(yīng)用：

¨聚合物的粘彈特性

¨硬質(zhì)涂層（PVD、CVD 涂層）：厚度小于 1 微米

¨聚合物薄膜

¨晶圓：厚度范圍為 10 nm 至 500 nm

¨光學(xué)和玻璃：薄膜和/或表面特性表征

¨內(nèi)在骨組織的質(zhì)量

¨*納米金剛石 (UNCD) 薄膜的機(jī)械性能

納米壓痕測(cè)試儀|納米壓痕儀|納米壓痕硬度儀|*納米壓痕測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：

***實(shí)驗(yàn)室條件下規(guī)定的本底噪音值，并使用減震臺(tái)。